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哪些因素会严重影响重庆发光字的寿命

2019-11-27

  当查阅相关数据并进行大量的比较实验时,提出了一种更科学的样品提取方法:根据芯片在外延晶片中的位置将其分为四个区域,如图4所示。每个区域中有2-3个令牌,总共8-10个令牌。考虑到不同设备的寿命测试结果甚至主要矛盾之间的差异,我们指定了严格的寿命测试方法:每个区域4-6个芯片,总共16-20个芯片,都经过测试正常情况下,芯片数量增加,测试条件不同。

  通常,样品数量越多,风险越低,寿命测试的结果越准确。但是,样品数量越多,样品数量越多,不可避免地浪费了劳力,材料资源和时间,并且增加了测试成本。如何解决风险与成本之间的关系一直是我们研究的内容。我们的目标是使用科学的采样方法以相同的测试成本将风险降低到最 低 水平。

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  重庆LED发光字寿命测试中,光电参数测试方法和设备的光分布曲线。首先,对测试样品进行测试和分析,以消除光电参数不合格或异常的设备。通过测试的人将被逐一编号以进行生活测试。

  连续测试后,重复测试以获得寿命测试的结果。为了使寿命测试结果客观准确,除了对测试设备进行测量外,原则上还要求在测试前后均使用同一台测试机,以减少不必要的误差因素。对于光学参数特别重要。在初始阶段,我们使用测量设备的光强度变化来判断光的衰减。通常,将测试设备的轴向光强度用作设备小半角的光分布曲线,并且光强度会随着几何位置的变化而迅速变化。

  测量的低重复性会影响寿命测试结果的客观性和准确性。为了避免这种情况,使用了广角包装,并使用了防反射杯架来消除反射杯的光分布效果以及器件包装形式的光分布性能的影响。测量精度。


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